{"product_id":"failure-analysis-9781501524783","title":"Análisis de fallas","description":"\u003cp\u003eEl libro presenta una visión única del análisis de fallas de dispositivos de alta tecnología. Describe las capacidades y limitaciones de muchas técnicas analíticas y rutas de prueba y las decisiones que se deben seguir en los estudios de análisis de fallas de ejemplo. \u003c\/p\u003e\u003cbr\u003e\u003cbr\u003e\u003cb\u003eAutor:\u003c\/b\u003e \u003ca href=\"https:\/\/sureshotbooks-com.myshopify.com\/search?type=product%2Carticle%2Cpage\u0026amp;q=AUTH-16497699\"\u003eDaniel J. D. Eric J. Sullivan Carleton\u003c\/a\u003e\u003cbr\u003e\u003cb\u003eEditorial:\u003c\/b\u003e de Gruyter\u003cbr\u003e\u003cb\u003ePublicado:\u003c\/b\u003e 10\/10\/2022\u003cbr\u003e\u003cb\u003ePáginas:\u003c\/b\u003e 128\u003cbr\u003e\u003cb\u003eTipo de encuadernación:\u003c\/b\u003e Tapa blanda\u003cbr\u003e\u003cb\u003ePeso:\u003c\/b\u003e 0.48lbs\u003cbr\u003e\u003cb\u003eTamaño:\u003c\/b\u003e 9.61h x 6.69w x 0.28d\u003cbr\u003e\u003cb\u003eISBN13:\u003c\/b\u003e 9781501524783\u003cbr\u003e\u003cb\u003eISBN10:\u003c\/b\u003e 150152478X\u003cbr\u003e\u003cb\u003eCategorías BISAC:\u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e- \u003ca href=\"https:\/\/sureshotbooks-com.myshopify.com\/search?type=product%2Carticle%2Cpage\u0026amp;q=CAT-TEC\"\u003eTecnología e ingeniería\u003c\/a\u003e | \u003ca href=\"https:\/\/sureshotbooks-com.myshopify.com\/search?type=product%2Carticle%2Cpage\u0026amp;q=BISAC-TEC021020\"\u003eCiencia de los materiales | Materiales electrónicos\u003c\/a\u003e\u003cbr\u003e- \u003ca href=\"https:\/\/sureshotbooks-com.myshopify.com\/search?type=product%2Carticle%2Cpage\u0026amp;q=CAT-SCI\"\u003eCiencia\u003c\/a\u003e | \u003ca href=\"https:\/\/sureshotbooks-com.myshopify.com\/search?type=product%2Carticle%2Cpage\u0026amp;q=BISAC-SCI013010\"\u003eQuímica | Analítica\u003c\/a\u003e\u003cbr\u003e- \u003ca href=\"https:\/\/sureshotbooks-com.myshopify.com\/search?type=product%2Carticle%2Cpage\u0026amp;q=CAT-TEC\"\u003eTecnología e ingeniería\u003c\/a\u003e | \u003ca href=\"https:\/\/sureshotbooks-com.myshopify.com\/search?type=product%2Carticle%2Cpage\u0026amp;q=BISAC-TEC008000\"\u003eElectrónica | General\u003c\/a\u003e\u003cbr\u003e\u003cbr\u003e\u003cp\u003e\u003cb\u003eSobre el autor\u003c\/b\u003e\u003cbr\u003e\u003cstrong\u003e\u003c\/strong\u003e \u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003cstrong\u003eDr. Daniel J. D. Sullivan\u003c\/strong\u003e \u003c\/p\u003e \u003cp\u003easistió a Cal \u0026 U. C. San Diego. Dirigió: laboratorios de FA, Fiabilidad y Materiales. Actualmente trabaja en ventas y marketing en EAG Labs. También ha escrito un libro no técnico, \"Don't Date Crazy\" de DJDS, y publicó un juego de mesa llamado Infection. \u003c\/p\u003e\u003cstrong\u003e\u003c\/strong\u003e \u003cp\u003e\u003cstrong\u003eDr. Eric J. Carleton\u003c\/strong\u003e \u003c\/p\u003e \u003cp\u003ees un desarrollador y consultor de tecnología que ha incubado múltiples startups tecnológicas, fundó Arrhenius, una firma de análisis de fallas, y atiende a clientes en una amplia gama de industrias en asuntos de análisis científico y litigios. \u003c\/p\u003e","brand":"de Gruyter","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":44432564781293,"sku":"9781501524783","price":96.99,"currency_code":"USD","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0550\/8097\/6621\/products\/img_a2998115-051e-44ba-ac9c-4349abf59535.jpg?v=1700045142","url":"https:\/\/sureshotbooks.com\/es\/products\/failure-analysis-9781501524783","provider":"SureShot Books Publishing LLC","version":"1.0","type":"link"}