Descripción
Este libro explora métodos novedosos para implementar la tecnología de difracción de rayos X como una modalidad de imagen, los cuales han sido posibles gracias a los recientes avances en la tecnología de detectores, la potencia computacional y los algoritmos de procesamiento de datos. La capacidad de realizar difracción de rayos X rápida y espacialmente resuelta en todo el volumen de una muestra abre posibilidades completamente nuevas en áreas como el análisis de materiales, el diagnóstico de cáncer y la detección de explosivos, lo que ofrece el potencial de revolucionar los campos de la imagenología y la detección médica, de seguridad e industrial. Con capítulos escritos por una selección internacional de autores tanto del ámbito académico como de la industria, el libro proporciona una discusión exhaustiva de la física subyacente, las arquitecturas y las aplicaciones de la imagenología por difracción de rayos X que es accesible y relevante tanto para neófitos como para expertos.
- Enseña métodos novedosos para la imagenología por difracción de rayos X
- Discusión exhaustiva y autocontenida de la física relevante, las técnicas de imagenología, los componentes del sistema y los algoritmos de procesamiento de datos
- Presenta el trabajo de vanguardia de autores internacionales tanto del ámbito académico como de la industria.
- Incluye aplicaciones prácticas en los sectores médico, industrial y de seguridad
Autor: Joel Greenberg
Editorial: CRC Press
Publicado: 30/06/2021
Páginas: 278
Tipo de encuadernación: Tapa blanda
Peso: 0.87lbs
Tamaño: 9.21h x 6.14w x 0.58d
ISBN13: 9781032094274
ISBN10: 1032094273
Categorías BISAC:
- Tecnología e Ingeniería | Electrónica | Circuitos | General
- Tecnología e Ingeniería | Láseres y Fotónica
- Tecnología e Ingeniería | Biomédica
Acerca del autor
Joel A. Greenberg obtuvo su B.S.E. en Ingeniería Mecánica y Aeroespacial de la Universidad de Princeton en 2005, y su Ph.D. en física de la Universidad de Duke en 2012. Luego se unió al Programa de Imagenología y Espectroscopia de Duke en 2012 como científico investigador y gerente técnico/de proyecto del programa de imagenología adaptativa computacional de rayos X (CAXI). Desde 2014, Joel ha sido Profesor Asistente de Investigación de Ingeniería Eléctrica y Computación en la Universidad de Duke y miembro del Fitzpatrick Institute for Photonics. Ha publicado más de 30 artículos en las áreas de óptica no lineal, física de átomos fríos, detección comprimida e imagenología de rayos X. Su investigación actual se centra en la detección computacional y su aplicación a la imagenología y detección de seguridad, médica e industrial.
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