Descripción
Este libro ofrece a los lectores una visión general de algunos de los avances más recientes en el campo de los detectores para imágenes de rayos X. La cobertura incluye tanto la tecnología como las aplicaciones, con una revisión en profundidad de los temas de investigación por parte de especialistas líderes en el campo. Se hace hincapié en materiales de alto Z como CdTe, CZT y perovskitas, ya que ofrecen las mejores posibilidades de implementación para detectores de rayos X de conversión directa. Los autores discuten los desafíos de los materiales, la física y la tecnología de operación del detector, y los circuitos integrados de lectura necesarios para detectar las señales procesadas por los sensores de alto Z.
Autor: Iniewski
Editorial: Springer
Publicado: 01/12/2023
Páginas: 295
Tipo de encuadernación: Tapa blanda
Peso: 0.96 libras
Tamaño: 9.21 pulgadas alto x 6.14 pulgadas ancho x 0.65 pulgadas profundidad
ISBN13: 9783030642815
ISBN10: 303064281X
Categorías BISAC:
- Tecnología e Ingeniería | Electrónica | Circuitos | General
Acerca del Autor
Krzysztof (Kris) Iniewski dirige las actividades de desarrollo de I+D en Redlen Technologies Inc., una empresa de detectores con sede en Columbia Británica, Canadá. Durante sus 15 años en Redlen, ha dirigido el desarrollo de productos de detectores CZT altamente integrados para imágenes médicas y aplicaciones de seguridad. Antes de Redlen, Kris ocupó varios puestos de dirección y académicos en PMC-Sierra, la Universidad de Alberta, SFU, UBC y la Universidad de Toronto.
El Dr. Iniewski ha publicado más de 150 artículos de investigación en revistas y conferencias internacionales. Posee más de 20 patentes internacionales concedidas en EE. UU., Canadá, Francia, Alemania y Japón. Ha escrito y editado varios libros para Wiley, Cambridge University Press, Mc-Graw Hill, CRC Press y Springer. Es un orador invitado frecuente y ha consultado para múltiples organizaciones a nivel internacional.