Descripción
Introducción.- Métodos.- Defectos en Nanocables.- Dinámica de Defectos en Nanocables.- Interfaces en Heteroestructuras Axiales de Nanocables.- Conclusiones y Trabajo Futuro.
Autor: James A. Gott
Editorial: Springer
Publicado: 31/01/2023
Páginas: 143
Tipo de encuadernación: Tapa blanda
Peso: 0.51lbs
Tamaño: 9.21h x 6.14w x 0.34d
ISBN13: 9783030940645
ISBN10: 3030940640
Categorías BISAC:
- Tecnología e Ingeniería | Electrónica | Semiconductores
- Tecnología e Ingeniería | Ciencia de los Materiales | Materiales Electrónicos
- Ciencia | Química | Analítica
Autor: James A. Gott
Editorial: Springer
Publicado: 31/01/2023
Páginas: 143
Tipo de encuadernación: Tapa blanda
Peso: 0.51lbs
Tamaño: 9.21h x 6.14w x 0.34d
ISBN13: 9783030940645
ISBN10: 3030940640
Categorías BISAC:
- Tecnología e Ingeniería | Electrónica | Semiconductores
- Tecnología e Ingeniería | Ciencia de los Materiales | Materiales Electrónicos
- Ciencia | Química | Analítica
Acerca del Autor
El Dr. James Gott obtuvo su BSc MPhys en la Universidad de Warwick en 2016. Luego se unió al grupo de microscopía electrónica en Warwick, donde obtuvo su doctorado en Física en 2020. Sus intereses de investigación incluyen la utilización de técnicas avanzadas de microscopía electrónica para estudiar nanomateriales.