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Descripción
El libro presenta una visión única del análisis de fallas de dispositivos de alta tecnología. Describe las capacidades y limitaciones de muchas técnicas analíticas y rutas de prueba y las decisiones que se deben seguir en los estudios de análisis de fallas de ejemplo.
Autor: Daniel J. D. Eric J. Sullivan Carleton
Editorial: de Gruyter
Publicado: 10/10/2022
Páginas: 128
Tipo de encuadernación: Tapa blanda
Peso: 0.48lbs
Tamaño: 9.61h x 6.69w x 0.28d
ISBN13: 9781501524783
ISBN10: 150152478X
Categorías BISAC:
- Tecnología e ingeniería | Ciencia de los materiales | Materiales electrónicos
- Ciencia | Química | Analítica
- Tecnología e ingeniería | Electrónica | General
Sobre el autor
Dr. Daniel J. D. Sullivan
asistió a Cal & U. C. San Diego. Dirigió: laboratorios de FA, Fiabilidad y Materiales. Actualmente trabaja en ventas y marketing en EAG Labs. También ha escrito un libro no técnico, "Don't Date Crazy" de DJDS, y publicó un juego de mesa llamado Infection.
Dr. Eric J. Carleton
es un desarrollador y consultor de tecnología que ha incubado múltiples startups tecnológicas, fundó Arrhenius, una firma de análisis de fallas, y atiende a clientes en una amplia gama de industrias en asuntos de análisis científico y litigios.