Descripción
Autor: John C. Vickerman
Editorial: Wiley
Publicado: 01/05/2009
Páginas: 688
Tipo de encuadernación: Tapa blanda
Peso: 3.20lbs
Tamaño: 9.60h x 6.60w x 1.40d
ISBN13: 9780470017647
ISBN10: 0470017643
Categorías BISAC:
- Tecnología e Ingeniería | Nanotecnología y MEMS
- Ciencia | Química | Física y Teórica
- Tecnología e Ingeniería | Ciencia de los Materiales | Películas delgadas, superficies e interfaces
Acerca del autor
John C. Vickerman Licenciado en Química (Edimburgo), Doctor en Química de Superficies (Bristol), DSc (Bristol). Becas predoctorales en las Universidades de Perugia y Roma, becas postdoctorales en la Universidad de Bristol y la Universidad Técnica de Eindhoven. Períodos de estudio sabático en la Universidad de Múnich, la Universidad Libre de Berlín y la Universidad Estatal de Pensilvania.
Dr. Ian Gilmore, Análisis de Superficies y Nanotecnología, Laboratorio Nacional de Física, Teddington, Reino Unido
Ian es Científico Investigador Principal en el equipo de Investigación de Análisis de Superficies y Nanotecnología y se unió a NPL en 1991. Su investigación se centra en el análisis de moléculas complejas en superficies. Investigaciones recientes han llevado al desarrollo de una nueva variante novedosa de SIMS estático llamada gentle-SIMS o G-SIMS.
Recibió un título en Física de la Universidad de Manchester en 1991 y un doctorado de la Universidad de Loughborough en 2000. Ian es miembro del Instituto de Física, miembro del Colegio EPSRC y miembro de la American Vacuum Society.