La práctica de TOF-SIMS: Espectrometría de masas de iones secundarios por tiempo de vuelo

La espectrometría de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo, TOF-SIMS, es una técnica analítica altamente sensible a la superficie que proporciona información sobre la composición con una resolución lateral submicrométrica. Para ciertos materiales, TOF-SIMS ofrece una sensibilidad inigualable junto con una excelente reproducibilidad y, como técnica espectrométrica de masas, también proporciona una excelente especificidad. De los métodos analíticos disponibles, es uno de los más sensibles a la superficie, pero los principios físicos que lo sustentan son también los menos comprendidos. Este volumen describe la instrumentación, los principios físicos detrás de la técnica en la medida en que se entienden, y proporciona un enfoque práctico para la interpretación de los datos de TOF-SIMS. El uso de métodos avanzados de procesamiento de datos, como las estadísticas multivariadas, se describe de una manera fácilmente accesible. Con una base básica en química y física de pregrado, el libro será de utilidad para cualquier estudiante interesado en la técnica.

Autor: Alan M. Spool
Editorial: Momentum Press
Publicado: 24/03/2016
Páginas: 181
Tipo de encuadernación: Tapa blanda
Peso: 0.58lbs
Tamaño: 9.00h x 6.00w x 0.41d
ISBN13: 9781606507735
ISBN10: 1606507737
Categorías BISAC:
- Tecnología e Ingeniería | Ciencia de los Materiales | General